工業(yè)內(nèi)窺鏡測量缺陷的方法都有哪些呢?

作者:微視光電  訪問量:1637  發(fā)布時間:2022-10-13 10:09:49

  工業(yè)內(nèi)窺鏡的核心功能是進(jìn)行設(shè)備內(nèi)部的缺陷排查,極大的提升了人們對設(shè)備檢測的效率,如今無損檢測行業(yè)的快速發(fā)展,工業(yè)內(nèi)窺鏡已經(jīng)遠(yuǎn)不止進(jìn)行缺陷檢查這么簡單,已經(jīng)可以對缺陷進(jìn)行測量,更加精準(zhǔn)的進(jìn)行缺陷維護(hù);

  那么工業(yè)內(nèi)窺鏡測量缺陷的方法都有哪些呢?主要分為兩大類:比較測量法和絕對測量法,這兩種缺陷測量方法占據(jù)市場上產(chǎn)品的絕大比例;

  比較測量法就是拿已有的圖像尺寸作為數(shù)據(jù)參考,以方便檢測其它的物體,這種測量方法數(shù)據(jù)比較精準(zhǔn),過程運算時間短,很多設(shè)備表面的缺陷都可使用這種測量方法;

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  絕對測量法又包含陰影測量法、雙物鏡測量法、三維立體相位掃描測量法、三維立體雙物鏡測量法這幾種,和比較測量法不同的是不需要參考物,只靠系統(tǒng)自身測量得出結(jié)果,數(shù)據(jù)精準(zhǔn)但是運算時間比較長,市場上使用廣泛;

  這幾種測量方法相比較,三維立體相位掃描和三維立體雙物鏡這兩種算是技術(shù)比較頂尖的測量方法,在三維空間內(nèi)進(jìn)行測量工作,有非常不錯的測量精度、減少人為誤差等等諸多優(yōu)點;在檢測時主要機(jī)遇光柵對檢測局部進(jìn)行掃描,通過對條紋圖像的相位分析,就能得到整個缺陷表面的三維數(shù)據(jù)和點云圖,形成立體圖形,測量技術(shù)非常的先進(jìn)精準(zhǔn);

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  而雙物鏡測量法則使用的是傳統(tǒng)的普通雙物鏡鏡頭,搭載最新的測量計算算法以及處理技術(shù)來進(jìn)行測量工作;

  以上便是深圳微視小編針對缺陷的測量方法進(jìn)行的詳細(xì)分析,工業(yè)內(nèi)窺鏡測量方法的不斷進(jìn)步,都會給工業(yè)生產(chǎn)領(lǐng)域帶來諸多便利,提高測量精準(zhǔn)度,降低設(shè)備的維修成本,進(jìn)一步提升運轉(zhuǎn)的安全性;

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